Máquina de tomografía industrial computerizada
NIKON METROLOGY
XTH225
El sistema del XTH 225 ofrece una fuente de rayos X de microfocalización potente, un volumen grande de inspección, con alta resolución de imagen y está preparado para la reconstrucción de TC ultra rápida. Cubre una amplia gama de aplicaciones, incluyendo la inspección de piezas fundidas pequeñas, piezas de plástico y mecanismos complejos además de investigar materiales y muestras naturales.
Ventajas
- Fuente patentada de rayos X de microfocalización de 225 Kv. con tamaño de punto focal de 3µm
- Funcionamiento fácil del sistema y coste reducido de propiedad
- Imágenes espectaculares que proporcionan una gran visión
- Adquisición de imágenes y procesamiento del volumen de gran rendimiento
- Automatización sencilla de la inspección
- La seguridad es lo principal
Aplicaciones:
- Inspección de componentes de plástico inyectado complejos.
- Inspección de moldes de precisión y piezas micro mecanizadas.
- Inspección de componentes por fabricación aditiva, sinterizado, fundición de aluminio de precisión...
- Reconstrucciones 3D de pieza completa.
- Análisis y test de materiales. Análisis de rotura en componentes, fibras de composites...
- Paleontología (huesos, fósiles...) y geología.
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